M1 MISTRAL緊湊型臺(tái)式微區(qū) XRF 光譜儀
緊湊型多用途臺(tái)式微區(qū)XRF，用于小點(diǎn)（100 μm）和多層鍍層分析（2 nm
- 60 μm 厚度范圍），組成分析可低至 ppm 級(jí)別
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MISTRAL 是一種緊湊型多功能臺(tái)式能量色散微區(qū) XRF 光譜儀。 M1 MISTRAL 易于操作，設(shè)計(jì)用于在工業(yè)環(huán)境中快速、經(jīng)濟(jì)高效的操作，提供有關(guān)貴金屬合金等材料元素成分和鍍層厚度以及多層鍍層的準(zhǔn)確信息。
根據(jù) ASTM 標(biāo)準(zhǔn) B568 和歐洲標(biāo)準(zhǔn) ISO
3497 對(duì)塊體和鍍層進(jìn)行分析。通過(guò) Rh 靶材對(duì)化學(xué)沉積磷鎳
（NIP）
鍍層進(jìn)行分析，可實(shí)現(xiàn)高精度。
所有珠寶合金、鉑族金屬或銀的成分可以在一分鐘內(nèi)確定。結(jié)果可以以重量百分比或克拉表示。
分析可以進(jìn)行無(wú)標(biāo)方法或基于標(biāo)樣的模型，以達(dá)到更高的精度。
從定位示例到在報(bào)表中打印結(jié)果 - 整個(gè)工作流程都可在軟件中實(shí)現(xiàn)。同時(shí)，通過(guò)開放訪問(wèn)原始數(shù)據(jù)，保證了數(shù)據(jù)的可重現(xiàn)性。
M1 MISTRAL緊湊型臺(tái)式微區(qū) XRF 光譜儀的特點(diǎn)：
可以無(wú)破壞性地測(cè)量多種元素。無(wú)需樣品制備。即使是復(fù)雜的分析任務(wù)也可以在可編程 XYZ 階段實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，只需單擊鼠標(biāo)即可開始。檢測(cè)系統(tǒng)快速提供結(jié)果。
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MISTRAL 配有大面積硅漂移探測(cè)器
（SDD），具有優(yōu)越的計(jì)數(shù)速率性能和能量分辨率，可將檢測(cè)限制降低至 ppm 級(jí)別。高性能檢測(cè)器、數(shù)字脈沖處理和優(yōu)化的幾何條件可產(chǎn)生高效的 X 射線檢測(cè)，從而快速準(zhǔn)確地獲得分析結(jié)果。
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MISTRAL 的易于使用且免維護(hù)的設(shè)計(jì)以及功能強(qiáng)大的分析軟件套件允許操作，即使只有接受過(guò)簡(jiǎn)短培訓(xùn)的人員也能夠操作。無(wú)需消耗品或氣體。堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)確保了最高的穩(wěn)定性和免維護(hù)的操作。
M1 MISTRAL緊湊型臺(tái)式微區(qū) XRF 光譜儀的應(yīng)用：
鍍層分析
金屬鍍層通過(guò)為各種產(chǎn)品提供增強(qiáng)的表面性能，對(duì)許多工業(yè)部門至關(guān)重要。金屬鍍層一般擁有耐用、耐腐蝕的特點(diǎn)，能夠保護(hù)基體材料，并大限度地減少金屬制品的磨損。鍍層成分和厚度的質(zhì)量控制對(duì)于確保正確的鍍層性能和耐久性至關(guān)重要。
化學(xué)鍍鎳鍍層
化學(xué)鍍鎳 （ENP） 是一種自動(dòng)催化化學(xué)工藝，是在基材上沉積一層鎳磷 （Ni-P） 合金鍍層。鎳磷鍍層的主要優(yōu)點(diǎn)之一是它能提供非常均勻的厚度，不依賴于零件的幾何形狀。化學(xué)鍍鎳可以覆蓋所有隱藏的表面，即使在復(fù)雜的零件上也提供完整的涂層覆蓋。
Rohs篩查
隨著電子設(shè)備的日益增多，電子垃圾的產(chǎn)生速度也比以往任何時(shí)候都快。近年來(lái)，歐盟和其他國(guó)家制定了多項(xiàng)法規(guī)，以促進(jìn)電子垃圾的回收利用，并減少與電子垃圾生產(chǎn)增加相關(guān)的健康和環(huán)境風(fēng)險(xiǎn)。
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MISTRAL緊湊型臺(tái)式微區(qū) XRF 光譜儀的技術(shù)細(xì)節(jié)：
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激發(fā)源
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W 靶或 Rh靶的高性能微聚焦光管
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最大樣本大小和重量
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48 x 49 x 20 cm3
高達(dá) 1.8 Kg
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探測(cè)器
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Peltier 冷卻，30 mm2 高性能硅漂移探測(cè)器，<150 eV 能量分辨率，在 Mn Ka
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樣品臺(tái)最大行駛范圍
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高達(dá) 200 mm x 175 mm x 80 mm（用于帶自動(dòng)對(duì)焦和Easy Load功能的電動(dòng) XYZ 樣品臺(tái)）
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多種元素
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默認(rèn)值：從 Ti （Z=22）W 靶
可選：從 Al （Z=13） Rh靶
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儀器尺寸（W x D x H）
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550 mm x 680 mm x 430 mm
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光斑大小
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0.1 mm 至 1.5 mm 的準(zhǔn)直器自動(dòng)切換
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M1 MISTRAL緊湊型臺(tái)式微區(qū) XRF 光譜儀的XSpect
Pro 分析軟件套件：
儀器控制、數(shù)據(jù)采集和管理
用戶可選觸摸屏界面
樣品臺(tái)控制和編程
金屬多層鍍層厚度分析
定量成分分析、無(wú)標(biāo)準(zhǔn)和基于標(biāo)準(zhǔn)的經(jīng)驗(yàn)?zāi)Ｐ?/span>
具有自動(dòng)峰值識(shí)別的譜線查看功能
統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制 （SPC） 趨勢(shì)線和數(shù)據(jù)
報(bào)告生成器
結(jié)果存檔
