與馬爾文帕納科所有的 Zetium 光譜儀一樣,金屬版可以為您所研究的應(yīng)用提供可靠的分析性能,并在與各種金屬的生產(chǎn)控制及研發(fā)相關(guān)方面中擁有良好表現(xiàn),例如:
◇鐵、鎳和鈷合金
◇銅、鋁和鈦合金
◇鋼鐵
◇貴金屬
◇釬焊合金
◇廢金屬和未知材料
◇礦渣
◇原材料
◇單層或多層涂層
Zetium光譜儀金屬版XRF分析儀概述:
金屬版經(jīng)過(guò)預(yù)配置,可從一開(kāi)始就提供快速、可靠的結(jié)果,并具有適當(dāng)?shù)挠布约澳x擇的預(yù)校準(zhǔn)應(yīng)用解決方案,包括:
○NiFeCo - 用于分析鋼材和合金
○Cu-Base - 用于分析銅合金
○LAS - 用于分析低合金鋼
您也可以選擇添加 WROXI(用于分析原材料中的氧化物)或 Stratos(用于分析涂層)。
SumXcore 在一個(gè)平臺(tái)中結(jié)合了 WDXRF 和 EDXRF 技術(shù)兩者的優(yōu)點(diǎn)。
這種組合為金屬生產(chǎn)帶來(lái)了優(yōu)勢(shì),包括:
○將分析時(shí)間縮短,以提高樣品處理量,或者在既定時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)更高的精度
○發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)樣品中的預(yù)期外元素
○對(duì)于夾雜物分析或同質(zhì)分析,可以利用 ED
core(能譜核)及獨(dú)特的轉(zhuǎn)換機(jī)制來(lái)實(shí)現(xiàn)微小區(qū)域分析和元素分布分析。
Zetium光譜儀金屬版XRF分析儀特點(diǎn):
?設(shè)計(jì)功能高一致性
?高容量樣品臺(tái)帶有高速進(jìn)樣器,特別適用于對(duì)樣品處理量有中到高需求的應(yīng)用
?探測(cè)器和計(jì)數(shù)電子裝置帶來(lái)高分析靈敏度以及速度
?通過(guò)統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制軟件實(shí)現(xiàn)異常值檢測(cè)和過(guò)程控制 - 特別適用于實(shí)現(xiàn)可追溯性和鑒定
?連續(xù)的全功率操作可增強(qiáng)穩(wěn)定性和可重復(fù)性
?可隨時(shí)用于自動(dòng)化環(huán)境
?軟件和應(yīng)用解決方案
?SuperQ 軟件的版本采用了簡(jiǎn)單而直觀的用戶界面、基體校正方案(例如三級(jí)熒光)、ED 解譜集成,并通過(guò)隨身專家系統(tǒng) Virtual Analyst 分析精靈軟件提供了多種信息
?Type
Standardization - SuperQ 的一個(gè)軟件模塊,它允許用戶在應(yīng)用程序中添加類型標(biāo)準(zhǔn),以便在用戶定義的限制范圍內(nèi)自動(dòng)校正結(jié)果
?NiFeCo - 一套專門開(kāi)發(fā)的樣品,可根據(jù) 120 多種認(rèn)證參考材料 (CRM) 來(lái)傳輸校準(zhǔn),以便對(duì)特種鋼、高溫合金和超合金進(jìn)行準(zhǔn)確的分析
?Cu-base
- 一套精心選擇的參考樣品,可用于為銅基金屬的分析設(shè)置校準(zhǔn),例如:
- 青銅(標(biāo)準(zhǔn)青銅、鋁青銅、磷青銅和鉛青銅)
- 黃銅(標(biāo)準(zhǔn)黃銅、合金黃銅和鉛黃銅)
?LAS - 一套精心選擇的參考樣品,可用于為低合金鋼的專門分析設(shè)置校準(zhǔn)
?升級(jí)軟件包以應(yīng)對(duì)各種挑戰(zhàn)
Zetium 平臺(tái)的模塊化設(shè)計(jì)允許通過(guò)使用可帶來(lái)切實(shí)利益的升級(jí)軟件包來(lái)優(yōu)化金屬版:
?SumXcore
- 可縮短分析時(shí)間,并發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)樣品中的預(yù)期外元素
?微小區(qū)域分析 - 特別適用于分析夾雜物,以執(zhí)行工藝故障排除
?速度和處理量 - 可加快樣品分析
?可靠性和正常運(yùn)行時(shí)間 - 適合在惡劣的環(huán)境下使用
?靈活性 - 可適應(yīng)樣品大小的變化
?性能增強(qiáng) - 可提供高靈敏度
Zetium光譜儀金屬版XRF分析儀參考技術(shù)指標(biāo):
基本配置亮點(diǎn)
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性能升級(jí)
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優(yōu)勢(shì)
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可選擇以下一種應(yīng)用程序:
NiFeCo
LAS
Cu-base
WROXI
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附加應(yīng)用程序可供選擇
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獨(dú)特的預(yù)校準(zhǔn)模塊或校準(zhǔn)設(shè)置可幫助對(duì)廣泛類型的樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的元素分析,特別適用于金屬制造的流程到質(zhì)量控制
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SST
R-mAX
2.4 kW
X射線光管
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提升正常運(yùn)行時(shí)間,并盡量減少監(jiān)測(cè)校正工作
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3 或 4 kW X射線光管
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在同樣的測(cè)量時(shí)間內(nèi)可更快地獲得結(jié)果并降低探測(cè)限制
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彎曲晶體確保更快地獲得結(jié)果
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在同樣的測(cè)量時(shí)間內(nèi)最多可提高 30% 的強(qiáng)度
測(cè)量時(shí)間更短,以滿足必要的限制
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H-Per 通道
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可用于最多兩種輕元素(B、C、N、Na、Mg)的同步測(cè)量,并且盡量縮短總分析時(shí)間
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SumXcore
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配合 WD 功能以更快地獲得結(jié)果
檢測(cè)成分的意外變化
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微小區(qū)域分析
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利用 ED core(能譜核)進(jìn)行成分分析,可快速、準(zhǔn)確地判斷成分趨勢(shì)和異質(zhì)性
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