FPD/LSI檢查顯微鏡 ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N這一系列的顯微鏡是檢查硅片、顯示屏等大型樣品的較理想選擇。主要用途集中在電子通訊領(lǐng)域的零部件檢查,如硅片、液晶顯示屏等。反射熒光*可用來有效地檢查光刻膠殘留,檢查有機(jī)EL顯示屏。平板顯示器/大規(guī)模集成電路(FPD/LSI)檢查顯微鏡ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N特點(diǎn):?尼康CFI60-2光學(xué)系統(tǒng)尼康的光學(xué)系統(tǒng)成像清晰,支持多種顯微鏡鏡檢。反射照明下可選擇的鏡檢方式有:明場(chǎng)、暗場(chǎng)、
Qeye 800可實(shí)現(xiàn)對(duì)試樣快捷、高分辨率的分析和測(cè)量。 特別適用于依據(jù)DIN EN ISO 5817對(duì)標(biāo)準(zhǔn)焊縫進(jìn)行測(cè)量和檢測(cè)。測(cè)量工具,比如尺寸, 熔深,評(píng)估限值和符合標(biāo)準(zhǔn)的檢測(cè)報(bào)告都以標(biāo)配的形式包含在備受推崇、用戶友好的Qpix Control2 軟件中。 集成的曲線模板模式,帶有預(yù)定義的測(cè)量元素和QATM標(biāo)準(zhǔn)目錄以及客戶定制模板的管理。Qeye節(jié)省時(shí)間,以高精度提供詳細(xì)的分析和測(cè)量。采用堅(jiān)固的現(xiàn)代工業(yè)設(shè)計(jì),易于更換的樣品載玻片。由于在潔凈室中組裝而具有對(duì)塵密性。QATM倒置顯微鏡QEYE 800技術(shù)
蔡司材料顯微鏡Axio Imager Vario簡(jiǎn)介:用于檢測(cè)大尺寸樣品的蔡司正置式顯微鏡Axio Imager Vario檢查大尺寸樣品–滿足自動(dòng)化潔凈室的要求從尺寸小的MEMS傳感器到大尺寸晶圓,甚至整個(gè)平板顯示器,檢測(cè)期間不會(huì)對(duì)樣品造成破壞。Axio Imager Vario支持的大樣品高度為254 mm,大橫向樣品空間為300 mm,拓展了可以測(cè)試的樣品范圍。機(jī)柱設(shè)計(jì)確保了良好的穩(wěn)定性??蓾M足在潔凈室內(nèi)檢測(cè)晶圓的應(yīng)用要求。利用驅(qū)動(dòng)Z軸的電動(dòng)馬達(dá)與自動(dòng)聚焦硬件確保自動(dòng)調(diào)整至聚焦位置。潔凈室半導(dǎo)體生產(chǎn)
半導(dǎo)體與平板顯示器檢測(cè)顯微鏡MX63/MX63L簡(jiǎn)介:奧林巴斯MX顯微鏡的設(shè)計(jì)理念是為客戶提供更高的操作效率。MX顯微鏡為用戶確保了四個(gè)等級(jí)的:快速入門、簡(jiǎn)易操作、失敗分析和擴(kuò)展功能。MX63/MX63L讓您的大尺寸樣品檢測(cè)流程更加順暢MX63和MX63L顯微鏡系統(tǒng)經(jīng)過優(yōu)化,適用于Z大尺寸300 mm的晶圓、平板顯示器、電路板以及其他大尺寸樣品的高質(zhì)量檢測(cè)。其采用的模塊化設(shè)計(jì)使您能夠選擇需要的組件,獲得根據(jù)應(yīng)用定制的系統(tǒng)。這兩款符合人體工學(xué)設(shè)計(jì)且人性化的顯微鏡有助于在提高工作效率的同時(shí),保持檢測(cè)員的工作舒